WKL-702颗粒图像分析仪

WKL-702颗粒图像分析仪

测量范围:0.1~3000(微米)
总放大倍数:8000倍
最大分辨率:0.1微米/像素
重复性:误差≤±1%

产品介绍

将传统的显微测量方法与现代的图像技术相结合,是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和颗粒测量的颗粒分析仪器,由光学显微镜、数字CCD摄像机和颗粒图像处理分析软件组成。该系统通过专用的数字摄像机将图像传输给电脑,通过专用的颗粒图像处理分析软件对图像进行分析处理,具有直观、形像、准确和测量范围宽等特点。

1、图像多种处理方法:影像增强、图像叠加、局部提取、定倍放大、对比度、亮度调节、颗粒定位、自动分割等几十种功能。

2、具有圆度、曲线、周长、面积、直径等几十种几何参数的基本测量。

3、可直接按颗粒粒径的粒径面积、形状等多类参数,以线性或非线性统计方式绘出分布图。

仪器型号

WKL-702

测量范围

0.1~3000(微米)

总放大倍数

8000倍

最大分辨率

0.1微米/像素

重复性

误差≤±1%

自动分割速度

≤1秒

数字摄像机(CCD)

500万像素

数据储存

电脑另配

通信接口

USB

操作系统

WinDOws 98/XP/7/8/10系统均可

电源

AC220V ±10% 200W

仪器尺寸

270mmX410mmX440mm

仪器净重

15kg