上海佑科UV756/UV756CRT扫描型紫外可见分光光度计

上海佑科UV756/UV756CRT扫描型紫外可见分光光度计

波长范围:190-1100nm;波长准确度:±0.5nm;光谱带宽:2nm

产品介绍

产品特点

*根据设置波长自动保存**新波长

*与普通同类产品相比增加了测量的稳定性

*可测量光程为100毫米

*全面的控制紫外灯和钨灯光功能

*根据标准模式或输入标准建立定量分析方式

*能够保存50组数据记录以及多达10条校准曲线

*可选择安装与电脑连接的软件装置

产品优势

采用1200条/mm高性能光栅。新型的光源控制系统,使仪器光源切换更快速。

精确的2nm带宽,使测试数据更准确。使用进口长寿命光源,使仪器光源切换更快速。

特有的波长控制系统,使波长精度更高。改良的光学系统,使测试更准确。

采用进口的光电转换器,使仪器的灵敏度更高。

新型的微电脑数据处理系统。使仪器的使用更简便,稳定性也很好。

仪器采用128*64位点阵液晶显示器,可直接显示标准曲线和测试数据,主机可存储测试数据,并可选配打印机;

UV756CRT紫外可见分光光度计UV756的基础上增加了全波段自动扫描功能和连接微机功能。

技术参数

. 波长范围:190-1100nm
. 波长准确度:±0.5nm
. 波长重复性:0.2nm
. 光谱带宽:2nm
. 透色比准确度:±0.5%T
. 透色比重复性:0.2%T
. 透色比范围:0.0-200%T
. 吸光度范围:-0.30-3A
. 浓度显示范围:0-1999
. 杂散光:0.05%T@220nm、360nm
. 稳定性:±0.001A/小时 @500nm
. 输出接口:USB接口
. 打印机:选配
. 分析软件:支持